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SpecMetrix® 高级实验室涂层厚度测量系统SpecMetrix®
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可靠且可重复的系统，提供更精确的涂层质量保证和测试数据
配备 2D 和 3D 图形的绘图软件，用于对涂层厚度和膜重分布进行可视化分析模块化设计
模块化设计便于系统重新配置和升级
可同时测量多个涂覆层，并显示单个层及各层组合的厚度峰值
SpecMetrix 高级实验室涂层厚度测量系统可在单点和扫描模式下提供高度精确的非接触式样品检测
提供更精确的涂层和层厚测量数据，简化QA质量保证测试并改进过程控制
SpecMetrix 高级实验室系统为样品上涂料和涂层的非接触、非破坏性以及实时厚度测量提供了更高标准。
该系统旨在简化QA质量保证流程，凭借其独特的能力，可以纳米级精度识别和量化绝对薄涂层或层厚，因此成为实验室首选的分析工具。SpecMetrix 高级实验室系统能够加速离线样品测试，并显著提升原材料和成品的检验质量。
实现涂覆平面样品和零部件的实时离线测试
实验室配件包括样品测试台、样品固定架和实验室专用探头
测量范围：0.2 至 250 微米(涂层厚度)
精度：涂层厚度的 +/- 1%(标称值)*
*所提供的精度数字是基于在 0.2 至 250 微米的整个测量范围内使用
NIST 可追溯厚度标准进行的精度验证。
测量速度：高达每秒 100 次
温度范围：0℃ 至 45℃
输出单位：
微米 microns
密耳 mils
毫克/平方英寸 mg/in2
毫克/4平方英寸 mg/4in2 克/平方米 g/m2
毫克/平方厘米 mg/cm2 磅/令 lbs/ream
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