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SpecMetrix ® 在线涂层厚度和膜层测量系统SpecMetrix®
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为薄膜和卷材应用提供可靠且连续的在线数据
双（顶部和底部）横移系统显示的在线测量数据
横移系统可提供横向和纵向的QA质量保证数据和分析，满足不同工厂的需求
三个固定探头系统显示的在线测量数据
为柔性包装和 R2R 加工行业提供连续且更精确的在线涂层和层厚测量解决方案
屡获殊荣的 SpecMetrix 在线涂层测量系统为涂覆薄膜、箔片和其他卷材应用的非接触、无损、实时涂层厚度和膜层测量（无论是湿态还是干态）提供了更高的精度标准。
这些在线系统采用模块化设计，具备高速运行能力，有效减少了涂层成本，简化了不同工厂流程中的设备安装、工艺转换和检查时间，可灵活配置为固定探头或横移系统。
SpecMetrix 横移配置
SpecMetrix 固定探头配置
测量范围： 0.3 至 250 微米 (涂层厚度)
精度：涂层厚度的 +/-3% (标称值)*
*所提供的精度数字是基于在 0.2 至 250 微米的整个测量范围内使用
NIST 可追溯厚度标准进行的精度验证。
卷绕速度：高达 2000 英尺/分钟高达 600 米/分钟
测量速度：高达每秒 150 次
扫描速度：高达 5 英寸（125 毫米）/秒
温度范围：0℃ 至 55℃
卷材宽度：可自定义
输出单位：
微米 microns
密耳 mils
克/平方米 g/m2
磅/令 lbs/ream
毫克/平方英寸 mg/in2 毫克/4平方英寸 mg/4in2
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